SICK*級型型測量光幕工作原理

SICK*級型型測量光幕工作原理
可用在輸送帶上物體(ti) 的分揀，
自動化存儲(chu) 和自動化檢索和全自動化的訂單處理係統。
例如在托盤測量檢定應用中，
托盤上物體(ti) 的*度和是否超限均可被檢測出來，
且數據可以很簡便的通過總線傳(chuan) 送至PLC控製器中。
•快速的集成到係統中
•集成CANOpen接口
•精度可選 10 / 20 / 30 / 50 mm，且接受定製客戶化的精度要求
• 8.5 m的工作距離
•檢測*度可達 3 m 和多 240個(ge) 光點

SICK*級型型測量光幕工作原理

•光軸間距 5mm. 10mm, 25mm 50mm
•小分辨率提*至 5mm
•快速反應時間
•測量*度達 3200mm
•IP 65/67 防護設計, 耐溫可低至 -30°C
•線纜同步
•友*操作軟件SOPAS ,通過TCP/IP實現連接
•更多樣的接口輸出
•透明物檢測模式
•快三倍的*速掃描模式
•極短的響應時間 < 9 ms
•在複雜的應用中可以通過示教算法進行敏感度學習(xi)
*級型測量光幕/測量光柵主要用於(yu) 複雜的應用場合。
SICK測量光幕/測量光柵產(chan) 品係列豐(feng) 富，
包含不同的光點間距，檢測*度和輸出類型。